БЕШЕНКОВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ

  Изобретение относится к области рентг-еноструктурного анализа материалов при высоких и низких температурах. Для изучения кинетики фазовых превращений в материалах при охлгикдении и изотермических выдержках на рентгеновских дифрактометрах с приставкой для длинномерных образцов перед термической обработкой образец нагревают до заданной расчетной температуры Т. Значение температуры...