PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КУЗИНКОВ МИХАИЛ ИВАНОВИЧ

Изобретатель КУЗИНКОВ МИХАИЛ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей

Интерферометр для контроля цилиндрических поверхностей

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля цилиндрических поверхностей. Цель изобретения - расширение типоразмеров контролируемых поверхностей. Интерферометр строится по схеме с совмещенными ветвями. Для этого эталонный оптический элемент вьшолнен в виде прозрачного коаксиального цилиндра и установлен после цилиндрической линзы так, что о...

1226041

Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей

Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы конических оптических поверхностей. Цель изобретения - возможность контроля формы конических поверхностей. Излучение монохроматического источника 1 выходит из интерференционного блока 2, который формирует цилиндрические волновые фронты - рабочий и сравнения. Рабочий цилиндрический волновой...

1359669