Светлов А.В.

 Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках, содержащее формирователь инжектирующих импульсов, формирователь опорного напряжения, первый и второй резисторы, операционный усилитель с клеммами для подключения исследуемого полупроводника на входе и на выходе, первый и второй блоки выборки и хранения, масштабирующий преобразователь и генератор импульсо...

 Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для измерения характеристик МДП-структур в процессе их производства. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства - достигается тем, что устройство позволяет дополнительно измерять сопротивление утечек МДП-структуры. Устройство содержит блок 1 управления, источник 2 опорного...