КИСЕЛЕВ МИХАИЛ ЯКОВЛЕВИЧ

  Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, а точнее к устройствам контроля кристаллографических параметров монокристаллов, используемых в электротехнической и химической промышленности. Изобретение позволяет исследовать цилиндрические образцы разных размеров без смены элементов конструкции и без переюстировки установки. Устройство состоит из установочного стола 1, за...

  Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано в рентгеновских дифрактометрах различного назначения. Целью изобретения является повышение стабильности за счет увеличения жесткости конструкции и упрощения процесса юстировки. В рентгеновском дифрактомере к кожуху источника рентгеновского излучения крепится корпус монохроматора. Данный узел я...

  Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа твердых тел пентинодифракционными методами. Цель изобретения - расширение возможностей рентгенодифрактометрических исследований. Рентгеновский дифрактометр содержит основание, на котором установлены рентгеновский излучатель с вмонтированным в него монохроматором, коллимирующая система, гониометр с поворотным держателем о...

  Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, и, в частности, к средствам рентгенографического контроля монокристаллов. Цель изобретения - повышение точности изготовления кристаллографически ориентированного базового среза на цилиндрическом монокристалле. Держатель содержит основание 1 с торцовой опорой 3 в виде шарика, стойку 2 с базовой плоскостью 11, зажимное приспосо...