ШУЛЬМАН МИХАИЛ ЕВСЕЕВИЧ
Изобретатель ШУЛЬМАН МИХАИЛ ЕВСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
Ультразвуковой дефектоскоп
Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий. Целью изобретения является повьппение точности контроля за счет расширения динамического диапазона измерений входного сигнала от дефекта. При превьшении уровня сигнала от дефекта в соответствии с диапазоном логарифмического усилителя на выходе селектора срабатьшает второй компаратор, в младший...
1233039Координатное устройство для ультразвукового дефектоскопа
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для автоматического определения параметров сканирования и координат дефектов при ультразвуковом контроле материалов и изделий. Цель изобретения - повышение точности путем исключения погрешностей, возникающих при сканировании контролируемого изделия по криволинейной траектории. Приемный электроакустический п...
1370547Устройство сканирования для ультразвуковой дефектоскопии
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для ультразвуковой дефектоскопии, например сварных соединений трубопроводов, а также контроля сварных швов сосудов, листовых конструкций. Цель изобретения - повышение точности определения параметров сканирования и координат дефекта за счет уменьшения погрешности измерения расстояния от излучателя до приемник...
1610431