КАБЫШ ВЛАДИМИР ИЛЬИЧ

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины слоев пленки. Изобретение позволяет автоматически контролировать толщину полимерной пленки при непрерывном ее производстве с более высокой точностью. Перемещающуюся пленку одновременно облучают излучением двух длин волн, одна из которых (Д ) лежит в области поглощения контролир...