ВЕЙСС КРИСТЬЯН ХЕРМАНОВИЧ
Изобретатель ВЕЙСС КРИСТЬЯН ХЕРМАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для испытания полупроводниковых приборов
Изобретение относится к полупроводниковой (ПП) технике. Может быть использовано для контроля и испытания вентилей, конденсаторов, реакторов в условиях их работы в схемах преобразователей. Цель изобретения - снижение потребляемой мощности - достигается регулировкой угла проводимости тиристоров, скорости нарастания и спада тока, исключением массивного трансформатора и ограничением...
1234793