ИВЛИЕВ АНДРЕЙ ДМИТРИЕВИЧ

  Изобретение позволяет измерить глубину проникновения электронов в вещество для широкого класса материалов . Одновременно снижается трудоем- - кость. Плоскопараллельный образец облучают, с одной стороны, потоком электронов, изменяющимся по периодическому закону, а, с другой стороны, непрерывно фиксируют изменение температуры , вызванное разогревом образца электронным пучком, и опр...

  Изобретение относится к исследованию теплофизических характеристик материалов, а именно к определению коэффициента температуропроводности. Целью изобретения является расширение технологических возможностей способа за счет области жидких состояний. Способ реализуется в устройстве, имеющем источник модулированного теплового потока, воздействующий на поверхность образца типа полуогра...