PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПОТАПОВА ГАЛИНА КОНСТАНТИНОВНА

Изобретатель ПОТАПОВА ГАЛИНА КОНСТАНТИНОВНА является автором следующих патентов:

Устройство для контроля дефектов поверхностей оптических деталей

Устройство для контроля дефектов поверхностей оптических деталей

  Устройство для контроля дефектов поверхностей оптических деталей относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в оптическом приборостроении. С целью повьшения производительности контроля осветительная оптическая система содержит маску, а также модулятор с диском, перфорированньтм радиальными участками секторов и одним кругом,.а приемная - диафрагму с отве...

1242780

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Устройство для контроля шероховатости поверхности

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного оптического контроля шероховатости поверхности изделий. Цель изобретения - повышение производительности контроля путем устранения необходимости производить точные установки контролируемой поверхности и источника коллимированного монохроматического светового пучка для различных углов падения...

1260679

Устройство для контроля шероховатости поверхности

Устройство для контроля шероховатости поверхности

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного оптического контроля шероховатости поверхности изделий. Целью изобретения является повьшение производительности контроля путем исключения из конструкции подвижных частей. Устройство содержит блок 1 коммутации, блок 2 формирования падающего монохроматического излучения, блок 3 приема отражен...

1326881

Способ контроля шероховатости поверхности детали и устройство для его осуществления

Способ контроля шероховатости поверхности детали и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности контроля и обеспечение возможности контроля шероховатости поверхности деталей различной отражательной способностью за счет того, что в процессе контроля непосредственно фиксируется параметр, определяемый только микрогеометрией контролируемой поверхности, на величину которого не влияет отра...

1490473