ПОЛИЭКТОВ ЮРИЙ ИВАНОВИЧ

  С целью повышения экспрессности и упрощения способа определения толщины покрытия на кристаллической подложке с использованием дифракции рентгеновских лучей предложено осуществить измерение брэгговского угла дифракции любого отражения для исследования образца и эталона, который выполняется из материала подложки. Толщину покрытия определяют по разности измеренных брэгговских углов...

  Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано в рентгеновских дифрактометрах различного назначения. Целью изобретения является повышение стабильности за счет увеличения жесткости конструкции и упрощения процесса юстировки. В рентгеновском дифрактомере к кожуху источника рентгеновского излучения крепится корпус монохроматора. Данный узел я...