АНТОНЮК ВЛАДИМИР НИКИФОРОВИЧ

  Устройство предназн ачено для измерения поляризационных парамет ров отражателей, например лазерных зеркал. В устройстве излучение от источника 2 модулируют иа разных частотах со, и (Jj с помощью амплитудного 5 и фазового 7 модуляторов и направляют на плоскопараллельную пластину 9. С помощью этой пластины, коммутатора 11, эталона амплитудной .и фазовой анизотропии 10, и нормаль (Л...

  Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в качестве малорасстраивающих зеркал резонаторов в кольцевых лазерах. Изобретение позволяет упростить конструкцию и расширить рабочую спектральную область. Уголковый отражатель состоит из призмы 1, выполненной из материала с показателем преломления 1,45-1,55 и нанесенной на ее гипотенузную грань интерфер...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в оптическом приборостроении. Целью изобретения является обеспечение возможности измерения величины зазора меньше длины волны и повышение точности измерений. Освещают поверхности, между которыми измеряют зазор, пучком монохроматического плоскополяризованного излучения, плоскость поляризации которого...

  Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для неразрушающего контроля толщин слоев при изготовлении покрытий на оптических деталях . Цель изобретения - повышение точности нанесения пленки. Облучают образец пучком от источника с длиной Я волны, измеряют сдвиг фаз между Р- и S-компонентами отраженного от образца излучения. При этом длину Я волны и угол обл...

  Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для неразрушающего контроля толщин слоев при изготовлении покрытий на оптических деталях . Цель изобретения - повышение точности нанесения пленки за счет точного определения момента прекращения ее нанесения . Пучок излучения с длиной Я волны падает на контролируемый образец (подложку ) под углом р , до и в процес...