ОСТАПЧУК АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ
Изобретатель ОСТАПЧУК АНАТОЛИЙ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Преобразователь давления Преобразователь давления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a99713ef394e8d6fbf7ee0749ef4a8b8.jpg)
Преобразователь давления
Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить чувствительность преобразователя. На одной стороне полупроводниковой пластины 2 выполнено углубление 3 в виде обращенной четырехгранной пирамиды. в которой расположен жесткий центр. На противоположной стороне пластины 2 сформирован чувствительный элемент 6, повернутый на угол 10-35 относительно диагонали основания...
1255879![Способ испытания стабильности интегральных схем Способ испытания стабильности интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ee9ed94de481d4f724c09d23851b7419.jpg)
Способ испытания стабильности интегральных схем
Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для проведения промежуточного контроля, ускоренных испытаний и отбраковки интегральных схем (ИС) вместо длительной электротермотренировки Цель изобретения - повышение чувствительности способа контроля к возможным механизмам нестабильности зарядовых состояний технологии изготовления ИС Способ включает предварительн...
1647478![Чувствительный элемент датчика влажности Чувствительный элемент датчика влажности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/843d7845f4e7e5481d5a68068a086ba1.jpg)
Чувствительный элемент датчика влажности
Использование: измерительная техника , в частности гигрометрйя, для определения содержания влаги в газообразных и сыпучих телах. Сущность изобретения: чувствительный элемент датчика влажности содержит полупроводник, например кремниевую пластину, на поверхность которой нанесена слоистая структура из окисла, нитрида кремния и поликристаллического кремния с двумя электродами. На сло...
1793350![Способ отбраковки ненадежных кмоп ис Способ отбраковки ненадежных кмоп ис](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6f7ec13a51ef35cd97cced5371fa2b16.jpg)
Способ отбраковки ненадежных кмоп ис
Изобретение относится к электроизмерениям и контролю качества полупроводниковых приборов и интегральных схем. Цель изобретения - повышение эффективности отработки ненадежных ИС. Отбраковку производят в следующей последовательности: сначала отбраковывают ИС по пробивному напряжению при нормируемом токе контроля, затем по пробивному напряжению при максимально допустимом токе и, нак...
1819352