Чутко В.М.

 (19)SU(11)1258301(13)A1(51)  МПК 5    H05H1/00(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛОВЫХ ЗАВИСИМОСТЕЙ ПАРАМЕТРОВ ИОННОГО РАСПЫЛЕНИЯ Изобретение относится к ионноплазменной технологии и может быть использовано для определения зависимостей различных пара...

 Изобретение относится к изготовлению прецизионных поверхностей изделий и позволяет повысить точность обработки изделий. Поверхность обрабатываемого изделия (И) 5, установленного с возможностью вращения, сопряжена с рабочей поверхностью неподвижной мишени (М) 8. В блок 7 управления вводят программу обработки, обеспечивающую необходимую обработку И 5 и заданное распределение плотности ионно...

 Изобретение относится к ионной технологии формирования поверхности оптических деталей. Целью изобретения является повышение качества обрабатываемой поверхности при сохранении высокой производительности процесса обработки. Для достижения цели в устройство, содержащее вакуумную камеру 4 с размещенными в ней в устройстве 6 крепления обрабатываемым изделием 5, ионным источником 1, установленн...