ЛИЦОВ АНДРЕЙ АНДРЕЕВИЧ
Изобретатель ЛИЦОВ АНДРЕЙ АНДРЕЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения параметров диэлектрических материалов
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и по сравнению с авт.св. № 1161898 позволяет сократить время измерений. Устройство содержит измерительную камеру (ИК) 1 с расположенными в // )/Г(//ГГ t л. , 12 f ней активным элементом 2 и СВЧ-переключателем 10, резистор 3, усилитель 4 с регулируемым коэффициентом усиления , операционный усилитель 5, два ключа 6 и 12, усил...
1264109
Выключатель
Изобретение относится к технике СВЧ и уменьшает потери пропускания. Устр-во содержит отрезок прямоугольного волновода (ОПВ) I с расположенными в нем короткозамыкающим поршнем (КЗП) 2, металлич. стержневым держателем (мед) 3, установленным между иирокими стенками ОПВ I, в зазор к-рого включен p-i-n-диод. В КЗП 2 выполнен сквозной цилиндрич. паа 4, при этом продольные оси МСД 3, па...
1354283
Выключатель
Изобретение относится к технике СВЧ и может использоваться в различной радиотехнической и измерительной аппаратуре. Цель изобретения - уменьшение потерь пропускания. Выключатель представляет собой отрезок прямоугольного волновода (ОПВ) 1, в поперечном сечении которого расположены три металлических стержня (МС) 2, 3, 4 и переключательный диод (ПД) 5. МС 2, 3 подключены к серединам...
1415278
Устройство для измерения параметров материалов
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей путем обеспечения измерения шероховатости металлических поверхностей. Устройство для измерения параметров материалов содержит датчик, выполненный в виде отрезка прямоугольного волновода 1, разомкнутый на одном конце, и расположенный в волноводе 1 источник 2 СВЧ-колебаний, а так...
1493939
Устройство для измерения параметров материалов
Изобретение относится к контрольноизмерительной СВЧ-технике и может быть использовано в технологических процессах электронной промышленности при контроле электрофизических параметров цилиндрических образцов (ЦО) из полупроводниковых , диэлектрических материалов или их структур. Цель изобретения - повышение локальности измерений ЦО. Устр-во содержит отрезок 1 прямоугольного волнов...
1626138