PatentDB.ru — поиск по патентным документам

РУДЫЙ АЛЕКСАНДР СТЕПАНОВИЧ

Изобретатель РУДЫЙ АЛЕКСАНДР СТЕПАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ комплексного определения теплофизических характеристик материала

Способ комплексного определения теплофизических характеристик материала

  Изобретение относится к области теплофизических измерений и может быть использовано для исследования теплофизических характеристик материалов в широком диапазоне температур. Целью изобретения является повышение точности измерений, упрощение процессов измерения и обработки результатов . Цель достигается тем, что образец исследуемого материала включают в автоколебательную систему....

1267241

Устройство для создания одномерного теплового потока

Устройство для создания одномерного теплового потока

  Устройство относится к области тепловых испытаний и может использоваться при исследовании и контроле теплофизических свойств веществ и материалов , например теплопроводности. Цель изобретения - повьшгение точности задания теплового потока и надежности устройства. Устройство для создания одномерного теплового потока содержит основной и охранный электронагреватели , а также термочу...

1276971

Способ комплексного определения теплофизических характеристик и устройство для его осуществления

Способ комплексного определения теплофизических характеристик и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к неразрушающим испытаниям и может быть использовано для измерения теплопроводности, температуропроводности и тепловой активности веществ и материалов в широком диапазоне температур. Цель изобретения - повышение точности и сокращение времени измерений. Изменяя постоянную времени Г0 дифференциатора-инвертора, входящего в измерительную цепь обратной тепловой с...

1718078

Устройство для измерения теплопроводности и температуропроводности материалов

Устройство для измерения теплопроводности и температуропроводности материалов

  Изобретение относится к теплофизическим измерениям. Сущность изобретения заключается в том, что исследуемый и эталонный образцы находятся в тепловом контакте через расположенный между ними нагреватель. Свободная поверхность эталона термостатирована, а свободная поверхность образца теплоизолирована и находится в контакте с горячим спаем дифференциальной термопары. Холодный спай те...

1770872