ТОРЧИНСКИЙ ИСААК АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель ТОРЧИНСКИЙ ИСААК АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:
![Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8de499399dbc3349f6b538ab4be4e167.jpg)
Рефлектометрический способ измерения параметра шероховатости анизотропных поверхностей металлических тел
Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения расширение измеряемых параметров и измерение их абсолютных величин за счет измерения кроме параметра шероховатости - высоты неровности, еще и следующих параметров - среднего квадратического отклонения, длины корреляции , среднего угола наклона боковых сторон неровностей, среднего шага неровностей , а также за счет ис...
1272108![Способ определения шероховатости Способ определения шероховатости](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4c0dce004f966f993e78766e7a565f1f.jpg)
Способ определения шероховатости
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения параметров шероховатости поверхностей. Целью изобретения является повышение информативности за счет увеличения числа определяемых параметров шероховатости и повышения точности за счет устранения влияния макрогеометрических отклонений поверхности при определении шероховатости , имеющей периодическую сост...
1455234![Способ измерения шероховатости металлической поверхности Способ измерения шероховатости металлической поверхности](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3d076b0b9ffa795960ba529c9d8aebab.jpg)
Способ измерения шероховатости металлической поверхности
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для обнаружения острых сколов на шероховатых металлических поверхностях. Цель изобретения - расширение информативности способа за счет обнаружения острых сколов на металлической поверхности. Направленный поток сначала поляризуют в вертикальной плоскости и измеряют интенсивность I<SP POS="POST"...
1668865![Интерференционный способ измерения толщины полупроводниковых слоев Интерференционный способ измерения толщины полупроводниковых слоев](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6c7ea21d16041db0e98d9665212182dc.jpg)
Интерференционный способ измерения толщины полупроводниковых слоев
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения толщины полупроводниковых слоев (прозрачных пленок) в электронной промышленности (в частности, для измерения толщины мембран в тензодатчиках). Кроме того, изобретение может быть использовано в приборостроении и машиностроении: Целью изобретения является повышение производительности измерений.На измеряем...
1747877![Устройство для изменения угла падения луча на образец Устройство для изменения угла падения луча на образец](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e17decc1d9a26bfb88e4fd5071aad0e4.jpg)
Устройство для изменения угла падения луча на образец
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изменения угла падения луча ка образец при неподвижных источнике излучения, образце и приемнике излучения. Цель изобретения - повышение производительности. Устройство содержит неподвижный источник излучения - лазер 1, плоское зеркало 2, установленное С возможностью вращения вокруг оси, Два эллиптических зеркала 3 и...
1772609