PatentDB.ru — поиск по патентным документам

АГЕЕВ ЛЕОНИД АФАНАСЬЕВИЧ

Изобретатель АГЕЕВ ЛЕОНИД АФАНАСЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения показателей преломления диэлектриков

Способ измерения показателей преломления диэлектриков

  Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть использовано в оптике, минералогии, петрографии, геммологии для определения в видимой области спектра показателей преломления п диэлектриков в широком диапазоне значений при пониженных требованиях к прозрачности образцов, предварительной обработке их поверхности и ее кривизне . С целью расширения диапазона измерения п на...

1278688

Способ приготовления штриховой меры тест-объекта для градуировки увеличения и проверки разрешающей способности электронных микроскопов

Способ приготовления штриховой меры тест-объекта для градуировки увеличения и проверки разрешающей способности электронных микроскопов

  Изобретение относится к технологии приготовления тест-объектов в электронной микроскопии. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей тест-объекта при сокращении времени его приготовления. Светочувствительный слой (СС) наносят на основание стеклянной равнобедренной призмы, одна из граней которой покрыта алюминиевым зеркалом. Облучение СС осуществляют лучом ла...

1597668

Способ приготовления штриховой меры для калибровки увеличения электронных микроскопов

Способ приготовления штриховой меры для калибровки увеличения электронных микроскопов

  Изобретение относится к технике электронной микроскопии и может быть использовано при создании тест-объектов для настройки электронных микроскопов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей штриховой меры за счет получения в процессе изготовления одновременно двух периодов записываемой решетки. На поверхности стеклянной пластины напыляют в вакууме слой сер...

1684615