РЕЗУНКОВ ВАЛЕНТИН КОНСТАНТИНОВИЧ
Изобретатель РЕЗУНКОВ ВАЛЕНТИН КОНСТАНТИНОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей, превышающих величину порядка 10 М. Контролируемая деталь 11 устанавливается в резонаторы двух лазеров одновременно. Длина одного из лазеров изменяется до совпадения частот генерации обоих лазеров. Затем контролируемая деталь смещается в поперечном напра...
1283221Устройство для измерения линейных перемещений
Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться в оптическом приборостроении дпя огфеделения кривизны поверхности оптических деталей. Целью изобретения является измерение устройством также радиуса кривизны оптических поверхностей . Излучение источника 1, например лазера, с помощью телескопи00 ел VI со со СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК А1 (19)...
1315799Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения преимущественно больших радиусов кривизны сферической поверхности оптических деталей. Контролируемую деталь устанавливают в резонаторы одновременно дв-ух лазеров с одинаковыми частотами, выравнивают частоты излучения, перемещают деталь в направлении , перпендикулярном ее.оптической оси, считают количество...
1322088Способ контроля оптических деталей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения кривизны поверх ностей и клиновидности оптических деталей. Цель изобретения - повьшение точности контроля - достигается за счет определения частоты оптических колебаний, соответствующей дифракции Брэгга. Монохроматическое излучение разделяют на два параллельных-последовательно направляемых на ко...
1456776Способ измерения величины зазора между прозрачными диэлектрическими поверхностями
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в оптическом приборостроении. Целью изобретения является обеспечение возможности измерения величины зазора меньше длины волны и повышение точности измерений. Освещают поверхности, между которыми измеряют зазор, пучком монохроматического плоскополяризованного излучения, плоскость поляризации которого...
1612201Способ контроля прозрачных оптических деталей
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (g1)g С 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н A BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И РТНРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР (21) 4479570/28 (22) 30.06,88 (46) 28.02.91. Бюл, ¹- 8 (72) Л.И. Даденко, Ю.Б.Пасько, В.К.Резунков и В.П.Тетера (53) 537, 7 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР ¹ 1456776, кл. G 01 В 11/24, 1...
1631271Модулятор
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для управления оптической длиной пути оптического излучения в различных оптических приборах и интерференционных схемах. Целью изобретения является повышение надежности модулятора за счет снижения величины управляющих сигналов при сохранении заданного диапазона перемещения зеркала путем управления величи...
1737397Способ контроля прозрачных оптических деталей
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения радиусов кривизны и толщины прозрачных оптических деталей при их производстве и эксплуатации. Целью изобретения является повышение точности и расширение функциональных возможностей контроля параметров. Для достижения поставленной цели нужно установить нижнюю частотную границу дифракции Брэгга падающего из...
1800261