РЕЗУНКОВ ВАЛЕНТИН КОНСТАНТИНОВИЧ
Изобретатель РЕЗУНКОВ ВАЛЕНТИН КОНСТАНТИНОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей, превышающих величину порядка 10 М. Контролируемая деталь 11 устанавливается в резонаторы двух лазеров одновременно. Длина одного из лазеров изменяется до совпадения частот генерации обоих лазеров. Затем контролируемая деталь смещается в поперечном напра...
1283221
Устройство для измерения линейных перемещений
Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться в оптическом приборостроении дпя огфеделения кривизны поверхности оптических деталей. Целью изобретения является измерение устройством также радиуса кривизны оптических поверхностей . Излучение источника 1, например лазера, с помощью телескопи00 ел VI со со СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК А1 (19)...
1315799
Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения преимущественно больших радиусов кривизны сферической поверхности оптических деталей. Контролируемую деталь устанавливают в резонаторы одновременно дв-ух лазеров с одинаковыми частотами, выравнивают частоты излучения, перемещают деталь в направлении , перпендикулярном ее.оптической оси, считают количество...
1322088
Способ контроля оптических деталей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения кривизны поверх ностей и клиновидности оптических деталей. Цель изобретения - повьшение точности контроля - достигается за счет определения частоты оптических колебаний, соответствующей дифракции Брэгга. Монохроматическое излучение разделяют на два параллельных-последовательно направляемых на ко...
1456776
Способ измерения величины зазора между прозрачными диэлектрическими поверхностями
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в оптическом приборостроении. Целью изобретения является обеспечение возможности измерения величины зазора меньше длины волны и повышение точности измерений. Освещают поверхности, между которыми измеряют зазор, пучком монохроматического плоскополяризованного излучения, плоскость поляризации которого...
1612201
Способ контроля прозрачных оптических деталей
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (g1)g С 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н A BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И РТНРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР (21) 4479570/28 (22) 30.06,88 (46) 28.02.91. Бюл, ¹- 8 (72) Л.И. Даденко, Ю.Б.Пасько, В.К.Резунков и В.П.Тетера (53) 537, 7 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР ¹ 1456776, кл. G 01 В 11/24, 1...
1631271
Модулятор
Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для управления оптической длиной пути оптического излучения в различных оптических приборах и интерференционных схемах. Целью изобретения является повышение надежности модулятора за счет снижения величины управляющих сигналов при сохранении заданного диапазона перемещения зеркала путем управления величи...
1737397
Способ контроля прозрачных оптических деталей
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения радиусов кривизны и толщины прозрачных оптических деталей при их производстве и эксплуатации. Целью изобретения является повышение точности и расширение функциональных возможностей контроля параметров. Для достижения поставленной цели нужно установить нижнюю частотную границу дифракции Брэгга падающего из...
1800261