ЗЕЙН ЕВГЕНИЙ НИКОЛАЕВИЧ

  ) Изобретение может быть использовано при токовихревой дефектоскопии протяженных металлоизделий с применением сканирующих электромагнитных полей. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет получения высокостабильного результирующего возбуждающего электромагнитного поля неизменной амплитуды, которое плавно с заданной или регулируемой скоростью перемещается по в...