БАЙРАМОВ М.А.

  Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения параметров легирования полупроводников Целью изобретения является неразрушак)- щее определение параметров объемного легирования полупроводника - концентрации основной легируницей примеси, степени ее компенсации и энергии активации . Согласно изобретению, при термостимулированном разряде МД...

  Изобретение касается определения кинетических характеристик твердых тел и может быть использовано для определения качества изтериалов, применяемых в твердотельной электротехнике, при исследовании фундаментальных свойств полупрсводмикоз и полупроводниковых прибоооз. Цель - по5;,шение точности измерений удельной проводимости и ЭДС Холла за счет устранения влияния конечности размеро...

  Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения зависимости холловской подвижности носителей заряда проводящем канале от концентрации заполненных пограничных электронных состояний (ЭС), локализованных вблизи границы раздела полупроводник-диэлектрик. Цель изобретения - увеличение числа определяемых параметров путем обгспечения определени...