РАЙНЕР ПЛОНТКЕ
Изобретатель РАЙНЕР ПЛОНТКЕ является автором следующих патентов:

Способ и схема для определения характеристики краев структур в измерительных приборах
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является обеспечение контроля геометрических параметров микро.труктур. -Схема устройства содержит центральное устройство, предназначенное для анализа сигнала с У2 fB (Л СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСПУБЛИН (19) (11) (su 4 С 01 В 21/30 gf Fл ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ1ЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУ...
1310640