НИКОЛЬСКИЙ ИВАН АЛЕКСАНДРОВИЧ
Изобретатель НИКОЛЬСКИЙ ИВАН АЛЕКСАНДРОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ получения рентгеновских дифракционных топограмм
Изобретение относится к методам исследования реальной структуры кристаллов. Целью изобретения является повышение производительности при получении топограмм от кристаллов большой площади методом углового сканирования с сохранением высокого разрешения. При осуществлении, способа на кристалл 3 направляют немонохроматизированный пучок рентгеновских лучей, выделенных из расходящегося...
1317342