Кувалдин Э.В.
Изобретатель Кувалдин Э.В. является автором следующих патентов:

Способ измерения фотометрических характеристик материалов
Изобретение относится к области измерения фотометрических характеристик материалов, таких как коэффициенты отражения, пропускания, рассеяния и др. Материалы могут быть как оптические, так и конструкционные, а также природные, такие как почвы, растения и пр. Характеристики измеряются в различных участках спектра оптического диапазона длин волн. Сущность изобретения: в импульсном фотометре...
2198383