Рожков О.В.
Изобретатель Рожков О.В. является автором следующих патентов:
![Способ масс-спектрометрического анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки Способ масс-спектрометрического анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки](/img/empty.gif)
Способ масс-спектрометрического анализа в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки
Использование: относится к динамической масс-спектрометрии. Сущность изобретения: в процессе сортировки заряженных частиц в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки импульсно изменяют постоянную составляющую и/или высокочастотную составляющую, и/или частоту, и/или скважность, и/или форму импульса питающего напряжения таким образом, чтобы хотя бы один раз за время сортировки им...
2019887![Оптико-электронное логическое устройство для контроля четности Оптико-электронное логическое устройство для контроля четности](/img/empty.gif)
Оптико-электронное логическое устройство для контроля четности
Изобретение относится к оптической обработке информации и может быть использовано в устройствах логического контроля и анализа двоичных последовательностей сигналов. Сущность изобретения: для контроля числа четных сумм по строкам в матрице из n столбцов и m строк на вектор из n элементов реализуют перемножение с помощью оптических транспарантов, после которых сигнал преобразуют с помощью...
2025758![Анализатор монопольного масс-спектрометра Анализатор монопольного масс-спектрометра](/img/empty.gif)
Анализатор монопольного масс-спектрометра
Изобретение относится к масс-спектрометрии. Анализатор содержит два электрода 1 и 2, рабочие профили которых имеют по крайней мере одну плоскость симметрии. Рабочий профиль электрода 1 образован частью окружности и двумя прямыми, пересекающимися друг с другом под углом = 2/n , где n = 2, 3, 4 ... , при этом центр окружности совпадает с точкой пересения прямых и лежит на плоскости симмет...
2029409![Способ масс-спектрометрического анализа ионов в квадрупольном фильтре масс и устройство для его осуществления Способ масс-спектрометрического анализа ионов в квадрупольном фильтре масс и устройство для его осуществления](/img/empty.gif)
Способ масс-спектрометрического анализа ионов в квадрупольном фильтре масс и устройство для его осуществления
Техническим результатом является повышение разрешающей способности и чувствительности масс-спектрометра. Изобретение относится к масс-спектрометрии. Анализируемые ионы разделяют по отношению массы к заряду во время пролета в высокочастотном поле, причем по меньшей мере дважды за время пролета ионы проходят области полей, различающихся значениями постоянной составляющей, и/или высокочастот...
2198449