СМИРНОВ ВИКТОР ОЛЕГОВИЧ
Изобретатель СМИРНОВ ВИКТОР ОЛЕГОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство компенсации погрешностей металлообработки
Изобретение относится к области станкостроения и может быть использовано в условиях гибкого автоматизированного производства на токарных станках с числовым нрограммны.м управлением для контроля и компенсации погрешностей направляющих относительно оси вращения шпинделя металлорежущих станков. Цель изобретения - повышение точности обработки путем компенсации непрямолинейности напра...
1349966
Способ контроля цилиндрических деталей в процессе обработки
Изобретение относится к металлообработке и предназначен;) для контроля размеров деталей в процессе шлифования. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет контроля спекловых структур, возникающих в отраженном от обрабатываемой детйли световом пучке. Контроль заданного размера детали осуществляют путем освещения обрабатываемой поверхности и регистрации отраженно...
1399096
Лазерная щуповая головка для размерного контроля
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности за счет исключения механического контакта щупа с контролируемой поверхностью . Устройство содержит объектив 13, матричный фотоприемник 14 и блок вычислений 18. Расстояние до поверхности 20 определяется,когда пятна спекл-структуры рассеяного поверхностью 20 излучения на фотоприемнике 14...
1467396