ШЕСТАКОВ АЛЕКСАНДР АЛЕКСАНДРОВИЧ

  Изобретение относится к испыта-. тельной технике и может быть использовано для определения прочности материала непосредственно в микросхемах приборных устройств. С целью расширения возможностей за счет определения механической прочности полупроводниковых криста.ллов в условиях одномерного движения фронта ударной волны напряжений кристалл или структуру микросхемы закрепляют на пло...