ЧУБИРКО МИХАИЛ ИВАНОВИЧ
Изобретатель ЧУБИРКО МИХАИЛ ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для оптико-электронной дефектоскопии
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для обнаружения дефектов поверхности различных объектов . Целью изобретения является повыщение стабильности измерений за счет совмещения одним элементом функций излучения и приема. В устройстве коммутатор 5, управляемый генератором 7 тактовых импульсов, осуществляет последовательное подключение каждог...
1357714