ОВСЯННИКОВА ЛИДИЯ ПЕТРОВНА
Изобретатель ОВСЯННИКОВА ЛИДИЯ ПЕТРОВНА является автором следующих патентов:

Электростатическая отклоняющая система с совмещенными центрами отклонения и способ отклонения пучка заряженных частиц в этой системе
Изобретение относится к электронно-лучевым приборам и может быть использовано при разработке систем отклонения луча заряженных частиц, в частности , с помощью электростатических отклоняющих систем с одновременным отклонением в двух направлениях и совмещенными центрами отклонения, предназначенных для приборов различного назначения. Цель изобретения - тиеньюение нелинейности отклон...
1365179
Электростатическая отклоняющая система
Изобретение относится к электронной оптике и может использоваться при разработке приборов со сканированном пучка по поверхности в двух взаимноперпендикулярных направлениях. Цель изобретения - повышение чувствительности отклонения и расширение функциональных возможностей-достигается путем отклонения частиц по двум взаимно перпендикулярным направлениям. Отклоняющая система содержит...
1557603
Электронная пушка с отклоняющей системой и способ формирования электростатического поля в отклоняющей системе
Изобретение относится к электроннооптическим системам, в частности к системам формирования электронного пучка И сканирования им поверхности образца. Изобретение предназначается для целей методики дифракции медленных электронов , а также оже-спектроскопии и растровой электронной микроскопии. Цель изобретения - уменьшение размера электронного пятна на образце, повышение плотности т...
1729247