PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОСИЛОВ МИХАИЛ СТЕПАНОВИЧ

Изобретатель КОСИЛОВ МИХАИЛ СТЕПАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения параметров дефектов в материалах

Способ измерения параметров дефектов в материалах

  Изобретение относится к способам неразрушающего контроля материалов и может быть использовано в химической , машиностроительной, металлургической и других отраслях народного хозяйства. Повышение точности и достоверности и принципиальная возможность определения размеров дефектов и глубины их залегания реализуются путем совокупных измерений при варьировании проходящего через образе...

1376029

Способ измерения толщины диэлектрических изделий

Способ измерения толщины диэлектрических изделий

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроительной, металлургической , химической и электронной пр01 1птенности. С целью повышения точности измерения подают на измерительный конденсатор с измеряемым изделием и компенсирующий конденсатор с эталонным изделием переменное напряжение, ток в измерительном конденсаторе поддерживают постоянным пу...

1455231

Устройство для дефектоскопии световодов

Устройство для дефектоскопии световодов

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике. Цель - повышение надежности дефектоскопии и увеличение ее оперативности. Для этого предлагаемое устройство содержит осветительную и регистрирующие системы. Осветительная система включает источник 1 света, конденсор 3. поворотное зеркало 4 и фокусирующую линзу 5. Два последних элемента имеют отверстия в их центрах, оси котор...

1721482