КОСИЛОВ МИХАИЛ СТЕПАНОВИЧ
Изобретатель КОСИЛОВ МИХАИЛ СТЕПАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения параметров дефектов в материалах
Изобретение относится к способам неразрушающего контроля материалов и может быть использовано в химической , машиностроительной, металлургической и других отраслях народного хозяйства. Повышение точности и достоверности и принципиальная возможность определения размеров дефектов и глубины их залегания реализуются путем совокупных измерений при варьировании проходящего через образе...
1376029
Способ измерения толщины диэлектрических изделий
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроительной, металлургической , химической и электронной пр01 1птенности. С целью повышения точности измерения подают на измерительный конденсатор с измеряемым изделием и компенсирующий конденсатор с эталонным изделием переменное напряжение, ток в измерительном конденсаторе поддерживают постоянным пу...
1455231
Устройство для дефектоскопии световодов
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике. Цель - повышение надежности дефектоскопии и увеличение ее оперативности. Для этого предлагаемое устройство содержит осветительную и регистрирующие системы. Осветительная система включает источник 1 света, конденсор 3. поворотное зеркало 4 и фокусирующую линзу 5. Два последних элемента имеют отверстия в их центрах, оси котор...
1721482