ЛЕХНОВИЧ ГАЛИНА АНАТОЛЬЕВНА
Изобретатель ЛЕХНОВИЧ ГАЛИНА АНАТОЛЬЕВНА является автором следующих патентов:

Способ контроля размеров объектов
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля размеров объектов. Цель изобретения - контроль диаметра литого ядра электрозаклепочных соединений за счет экспериментально установленной корреляции между диаметром электрозаклепки и площадью пятна цветов побежалости. Изготавливают несколько электрозаклепок на образце, представляющем собой части контролируе...
1388707
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Изобретение относится к области магнитного контроля и может быть использовано при контроле качества изделий, изготовленных из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение достоверности магнитного контроля. Контрольный образец для магнитной дефектоскопии содержит планки, имитатор сварного шва и искусственный дефект. Имитатор сварного шва выполнен в виде каркаса...
1778670
Способ калибровки магнитных дефектоскопов
Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Цель изобретения - повышение достоверности калибровки за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов. достигается за счет того, что в способе калибровки магнитных дефектоскопов, заключающемся в том. что на бездефектный контрольный образец укладывают им...
1797029
Способ калибровки магнитных дефектоскопов и устройство для его осуществления
Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Цель изобретения - расширение области использования за счет калибровки также и дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений из закаливающихся сталей. В способе калибровки магнитных дефектоскопов , заключающемся в том, что на бездефектный ко...
1817015