PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СТРИНАДКО МИРОСЛАВ ТАНАСИЕВИЧ

Изобретатель СТРИНАДКО МИРОСЛАВ ТАНАСИЕВИЧ является автором следующих патентов:

Интерференционный способ измерения толщины пленок

Интерференционный способ измерения толщины пленок

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок и слоев. Цель изобретения - повышение точности и диапазона измерений достигается использованием рассеянного когерентного света для облучения измеряемой пленки. Измеряемую пленку облучают когерентным рассеянным светом. Перемещая интерференционную головку микроинтерферомет...

1401266

Гигрометр точки росы

Гигрометр точки росы

  Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для измерения влажности газов. Цель изобретения - повышение точности фиксации точки росы и обеспечение возможности измерения влажности газов малых объемов и малых концентраций. Для этого в гигрометре точки росы, содержащем источник когерентного излучения, элемент ввода излучения в волновод , фотоприемник с анал...

1413503

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структурных параметров шероховатых поверхностей, а также оптической анизотропии вещества диэлектриков полупроводников и т.д. Цель изобретения - повышение точности определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей, обладающих оптической анизотропией, и информативности...

1562696

Способ определения оптической анизотропии прозрачных образцов

Способ определения оптической анизотропии прозрачных образцов

  Изобретение относится к измеритепь ной технике и может быть испопьзовано для исследования структуры вещества отиче ски напряженных (разово-неоднородных объектов, что актуально в оптическом дефектоскопии кристаллооптике полупроводниковом и оптическом приборостроении Цель изобретения -повышения точности определения оптической анизотропии что обус ловлено диапазоном линейного измере...

1640542

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ сОциАлисТических РЕСПУБЛИК (я)5 G 01 В 11/30 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4677464/28 (22) 11.04.89 (46) 30.04.91. Бюл. М 16 (71) Черновицкий государственный университет (72) А.Г.Ушенко, M.T,Ñòðèíàäêî и M.À.Недужко (53) 531,715.27(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР...

1645811


Способ определения формы поверхности

Способ определения формы поверхности

  Изобретение относится к измор тепь ной технике, к определению формы поверхностей оптическими методами Цель изобретения - расширение диапазона ви дов контролируемых поверхностей посред ством измерения характеристик поляризации отраженного пучка излучения Формируют плоскость поляризации освещающего лазерного пучка под углом 0° Во 90°относительно плоскости падения, в...

1651095

Способ контроля формы поверхности

Способ контроля формы поверхности

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля формы поверхностей в оптическом и полупроводниковом приборостроении. Целью изобретения является расширение класса контролируемых поверхностей за счет возможности контроля как полированных, так и слабошероховатых поверхностей, а также повышение точности контроля за счет формирования одно...

1656320

Способ измерения углов рефракции

Способ измерения углов рефракции

  Изобретение относится к физической оптике, в частности к технике использования структуры вещества фазовохаотических объектов при наличии двулучепреломления, и может быть использовано в кристаллооптике, полупроводниковом приборостроении, неразрушающем контроле состояния поверхностной и объемной составляющих объекта и других отраслях науки и техники. Цель - повышение точности измере...

1670542

Способ измерения толщины тонких слоев

Способ измерения толщины тонких слоев

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщин тонких слоев. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых толщин и повышение точности за счет определения толщины по новым параметрам провзаимодёйствовавшего излучения. Исследуемый слой освещается под разными углами частотно-модулированным излучением , а о толщине слоя судят по час...

1728648

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатой поверхности

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатой поверхности

  Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для определения распределения крутизны микронеровностей , определяющих величину напряжения при контакте трущихся поверхностей , а также прочностные характеристики деталей, что актуально в приборостроении, бесконтактном контроле состояния поверхностей и др. отраслях науки и техники. Целью изобретения является повы...

1744457


Бесконтактный способ измерения толщины нефтяной пленки на поверхности воды

Бесконтактный способ измерения толщины нефтяной пленки на поверхности воды

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в самолетных системах контроля загрязнения нефтью морской поверхности и в очистных сооружениях портов и промышленных предприятий. Цель изобретения - повышение точности измерения, расширение информативности способа и диапазона измеряемых толщин за счет формирования опорного канала и устранения влияния неконтро...

1779912

Способ восстановления объекта по его дифракционной картине

Способ восстановления объекта по его дифракционной картине

  Изобретение относится к области распознавания образов лазерной локации и может .быть использовано в оптике, космической технике, астрономии для восстановления объекта и однозначного определения его пространственной ориентации. Сущность: способ восстановления объекта по его дифракционной картине заключается в том, что дополнительно к операциям восстановления объекта производят выд...

1807445