СТРИНАДКО МИРОСЛАВ ТАНАСИЕВИЧ
Изобретатель СТРИНАДКО МИРОСЛАВ ТАНАСИЕВИЧ является автором следующих патентов:
Интерференционный способ измерения толщины пленок
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения толщины пленок и слоев. Цель изобретения - повышение точности и диапазона измерений достигается использованием рассеянного когерентного света для облучения измеряемой пленки. Измеряемую пленку облучают когерентным рассеянным светом. Перемещая интерференционную головку микроинтерферомет...
1401266Гигрометр точки росы
Изобретение относится к области измерительной техники и предназначено для измерения влажности газов. Цель изобретения - повышение точности фиксации точки росы и обеспечение возможности измерения влажности газов малых объемов и малых концентраций. Для этого в гигрометре точки росы, содержащем источник когерентного излучения, элемент ввода излучения в волновод , фотоприемник с анал...
1413503Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структурных параметров шероховатых поверхностей, а также оптической анизотропии вещества диэлектриков полупроводников и т.д. Цель изобретения - повышение точности определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей, обладающих оптической анизотропией, и информативности...
1562696Способ определения оптической анизотропии прозрачных образцов
Изобретение относится к измеритепь ной технике и может быть испопьзовано для исследования структуры вещества отиче ски напряженных (разово-неоднородных объектов, что актуально в оптическом дефектоскопии кристаллооптике полупроводниковом и оптическом приборостроении Цель изобретения -повышения точности определения оптической анизотропии что обус ловлено диапазоном линейного измере...
1640542Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей
СОЮЗ СОВЕТСКИХ сОциАлисТических РЕСПУБЛИК (я)5 G 01 В 11/30 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4677464/28 (22) 11.04.89 (46) 30.04.91. Бюл. М 16 (71) Черновицкий государственный университет (72) А.Г.Ушенко, M.T,Ñòðèíàäêî и M.À.Недужко (53) 531,715.27(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР...
1645811Способ определения формы поверхности
Изобретение относится к измор тепь ной технике, к определению формы поверхностей оптическими методами Цель изобретения - расширение диапазона ви дов контролируемых поверхностей посред ством измерения характеристик поляризации отраженного пучка излучения Формируют плоскость поляризации освещающего лазерного пучка под углом 0° Во 90°относительно плоскости падения, в...
1651095Способ контроля формы поверхности
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля формы поверхностей в оптическом и полупроводниковом приборостроении. Целью изобретения является расширение класса контролируемых поверхностей за счет возможности контроля как полированных, так и слабошероховатых поверхностей, а также повышение точности контроля за счет формирования одно...
1656320Способ измерения углов рефракции
Изобретение относится к физической оптике, в частности к технике использования структуры вещества фазовохаотических объектов при наличии двулучепреломления, и может быть использовано в кристаллооптике, полупроводниковом приборостроении, неразрушающем контроле состояния поверхностной и объемной составляющих объекта и других отраслях науки и техники. Цель - повышение точности измере...
1670542Способ измерения толщины тонких слоев
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщин тонких слоев. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых толщин и повышение точности за счет определения толщины по новым параметрам провзаимодёйствовавшего излучения. Исследуемый слой освещается под разными углами частотно-модулированным излучением , а о толщине слоя судят по час...
1728648Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатой поверхности
Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для определения распределения крутизны микронеровностей , определяющих величину напряжения при контакте трущихся поверхностей , а также прочностные характеристики деталей, что актуально в приборостроении, бесконтактном контроле состояния поверхностей и др. отраслях науки и техники. Целью изобретения является повы...
1744457Бесконтактный способ измерения толщины нефтяной пленки на поверхности воды
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в самолетных системах контроля загрязнения нефтью морской поверхности и в очистных сооружениях портов и промышленных предприятий. Цель изобретения - повышение точности измерения, расширение информативности способа и диапазона измеряемых толщин за счет формирования опорного канала и устранения влияния неконтро...
1779912Способ восстановления объекта по его дифракционной картине
Изобретение относится к области распознавания образов лазерной локации и может .быть использовано в оптике, космической технике, астрономии для восстановления объекта и однозначного определения его пространственной ориентации. Сущность: способ восстановления объекта по его дифракционной картине заключается в том, что дополнительно к операциям восстановления объекта производят выд...
1807445