БУЛЕЕВ МИХАИЛ ИВАНОВИЧ

  Изобретение относится к области физико-химического анализа состава поверхности твердых тел методами вторичной ионной и электронной эмиссии. Цель изобретения - повьпиение точности анализа. Для этого стекани е заряда с поверхности исследуемого диэлектрика осуществляется посредством заостренного металлического зонда, приведенного в контакт с поверхностью близости от зоны действия пе...