PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МАРТИРОСЯН АИДА АЙКАЗОВНА

Изобретатель МАРТИРОСЯН АИДА АЙКАЗОВНА является автором следующих патентов:

Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах

Способ определения тонких структурных изменений в растянутых полимерах

  Изобретение относится к рентгенографическим способам исследования полимерных веществ. Цель - новыщение чувствительности и экспрессности способа. Используют рентгеновский трехблочный интерферометр для исследования надмолекулярной структуры полимеров. Между зеркальным и анализирующим блоками интерферометра размещают распятую пленку полимера в двух положениях, при которых ось ее рас...

1413493

Способ рентгеновской топографии кристаллов

Способ рентгеновской топографии кристаллов

  Изобретение относится к рентгенотопографическим исследованиям несовершенств кристаллов и может быть использовано для исследований структурных искажений почти совершенных кристаллов. Целью изобретения является повышение информативности за счет одновременного наблюдения эффектов маятникового решения и аномального прохождения. Это достигается приданием исследуемому кристаллу клиновид...

1562804