АКСЕНОВА СВЕТЛАНА ИЗРАИЛЕВНА

  Изобретение относится к металлургии и может быть использовано для выявления металлургических факторов качества проката, влиянщих на склонность к хрупкому разрушению среднет углеродистых легированных сталей, что позволяет оценить возможность использования материалов в тяжелонагруженных конструкциях. Цель изобретения - повьшение точности оценки структурной полосчатости. Из проката...

  Изобретение относится к технике приготовления образцов для электрон- Иой микроскопии с использованием метода реплик (Р). Целью изобретения является повьшение качества двухступенчатых углеродных Р за счет уменьшения их загрязнения при отделении из первичного отпечатка (НО) с исследуемой поверхности. После приготовления ПО на его контактную fiosepx- ность.осаждают в вакууме углерод...

  Изобретение касается получения объектов для электронной микроскопии и может быть использовано для изучения топографии поверхностей разрушения и других рельефных поверхностей. Цель изобретения - повышение качества реплик, получаемых с рельефных хрупких изломов. Способ Изобретение относится к способам получения объектов для электронной микроскопии , в частности для изучения топогра...