ВАЙЛЬ ЮРИЙ ЛЬВОВИЧ
Изобретатель ВАЙЛЬ ЮРИЙ ЛЬВОВИЧ является автором следующих патентов:
Френелевский анализатор для контроля геометрических параметров изделий
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля геометрических параметров изделий. Цель изобретения - повышение точности измерения геометрических параметров изделий - достигается за счет использования оптического увеличения дифракционной картины . Микрообъектив 2 и точечная диафрагма 3 формируют расширенный пучок , куда помещается контролируем...
1430741