PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ВАЙЛЬ ЮРИЙ ЛЬВОВИЧ

Изобретатель ВАЙЛЬ ЮРИЙ ЛЬВОВИЧ является автором следующих патентов:

Френелевский анализатор для контроля геометрических параметров изделий

Френелевский анализатор для контроля геометрических параметров изделий

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля геометрических параметров изделий. Цель изобретения - повышение точности измерения геометрических параметров изделий - достигается за счет использования оптического увеличения дифракционной картины . Микрообъектив 2 и точечная диафрагма 3 формируют расширенный пучок , куда помещается контролируем...

1430741