Гаевский Ю.С.

 Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для измерения характеристик МДП-структур в процессе их производства. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства - достигается тем, что устройство позволяет дополнительно измерять сопротивление утечек МДП-структуры. Устройство содержит блок 1 управления, источник 2 опорного...