БАБЕНКО СЕРГЕЙ ДМИТРИЕВИЧ

  Изобретение относится к исследованию или анализу полупроводниковых материалов с помощью электрохимических средств путем определения потенциалов плоских зон полупроводников электродов в растворах электролитов. Цель изобретения - упрощение способа и повышение экспрессности измерений при одновременном повышении точности измерений за счет устранения влияния поверхностных процессов,В...