АЛЬТШУЛЕР Г.Б.

  Изобретение относится к -екник измерений физических пар шетров ,зе :;е.-- ств и может быть использовано в оптической npoMbatLriefiiHocTM для аттестации оптических -)атериалов по величине нсляней ости прело1чления, Цель - ;1овьп1 еняе производи тельности нзмерени й за счет сниженн}; трудоемкости юстировки onTfwecKOH схемы устройствз Устройство содержит источник лазерного излучения...

  Изобретение отнбсится к лазерной технике и может быть использовано в оптической промыишенности при изготовлении и выбраковке активных элементов твердотельных лазеров. Цель изобретения - повышение чувствительности определения размеров оптических неоднородностей исследуемых активных элементов. Исследуемый активный элемент облучают коллимированным .лазерным излучением, регистрируют...