БЕЛЬТЕК КИРИЛЛ ГЕОРГИЕВИЧ

  Изобретение относится к рентгенодифрактометрии монокристаллических слитков полупроводниковых материалов. в частности к ориентировке слитков различных диаметров на дифрактометре. Цель изобретения состоит в упрощении процесса установки слитков монокристаллов различных диаметров в держатель . Держатель содержит стационарно установленные относительно оси рентгеногониометра 4ч нкционн...