ГЕТМАНЕЦ ОЛЕГ МИХАЙЛОВИЧ
Изобретатель ГЕТМАНЕЦ ОЛЕГ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения концентрации свободного газа в газожидкостной среде и устройство для его осуществления
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения концентрации нерастворенного газа в газожлдкостной смеси в нефтяной, газовой и химической отраслях промышленности. Целью изобретения, является повьш1ение точности за счет исключения ошибок, вызываемых флуктуациями параметров контролируемой среды. Согласно изобретению в исследуемой газожидкостной...
1437772
Способ измерения концентрации свободного газа в газожидкостных смесях и суспензиях
Изобретение относится к акустическим изменениям и может быть использовано для измерения концентрации нерастворенного газа в газожидкостной смеси с помощью упругих колебаний. Цель изобретения - повышение точности измерения за счет флуктуаций плотностей жидкости и твердотельных включений. Согласно способу измерения концентрации свободного газа в газожидкостных смесях в исследуемой с...
1523989
Способ анализа материалов
Изобретение относится к методам анализа вещества с использованием ускорителей заряженных частиц и может быть использовано для определения дефектнопримесного состава материалов в электротехнической и электронной промышленности. Цель изобретения - повышение чувствительности анализа при возможности его осуществления на глубинах, превышающих величину пробега ионов. Перед облучением н...
1695197