Банах В.А.
Изобретатель Банах В.А. является автором следующих патентов:

Способ измерения атмосферной рефракции
Изобретение позволяет измерить угол атмосферной рефракции. Цель - увеличение точности и чувствительности измерений - достигается измерением угловых смещений оптического изображения двух источников света, отличающихся друг от друга и (или) когерентностью, и (или) расходимостью (фокусировкой), и (или) начальным размером светового пучка. В формуле изобретения приведено математическое выражен...
1438419