УШЕНКО АЛЕКСАНДР ГРИГОРЬЕВИЧ

  Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повьшение . точности и рас , ширение пределов измерений функции распределения углов наклона микронеровностей , размеры которых сравнимы с длиной волны, за счет устранения влияния дифракционного уширения пучков излучения, отраженных от микроплощадок. Для этого формируют коллимированный пучок когерентного изл...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структурных параметров шероховатых поверхностей, а также оптической анизотропии вещества диэлектриков полупроводников и т.д. Цель изобретения - повышение точности определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей, обладающих оптической анизотропией, и информативности...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структуры шероховатых поверхностей диэлектриков, металлов, полупроводников и др., что актуально в приборостроении, неразрушающем оптическом контроле и других отраслях науки и техники. Целью изобретения является повышение точности измерения и расширение области использования за счет измерения ф...

  Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для исследования градиента показателя преломления прозрачных объектов с шероховатой поверхностью в дефектоскопии, оптике рассеивающих сред, оптическом приборостроении и других областях науки и техники. Целью изобретения является повышение точности измерений и расширения класса исследуемых объектов на образцы с шер...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ социАлистических РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 11/30 COCYgPPCTBEI+hlA КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4660446/28 (22) 09.03,89 (46) 15.03.91. Бюл. N 10 (71) Черновицкий государственный университет (72) А. Г. Ушенко и С. Б. Ермоленко (53) 531.715.27(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР N 1456...

  Изобретение относится к измеритепь ной технике и может быть испопьзовано для исследования структуры вещества отиче ски напряженных (разово-неоднородных объектов, что актуально в оптическом дефектоскопии кристаллооптике полупроводниковом и оптическом приборостроении Цель изобретения -повышения точности определения оптической анизотропии что обус ловлено диапазоном линейного измере...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ сОциАлисТических РЕСПУБЛИК (я)5 G 01 В 11/30 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4677464/28 (22) 11.04.89 (46) 30.04.91. Бюл. М 16 (71) Черновицкий государственный университет (72) А.Г.Ушенко, M.T,Ñòðèíàäêî и M.À.Недужко (53) 531,715.27(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР...

  Изобретение относится к измор тепь ной технике, к определению формы поверхностей оптическими методами Цель изобретения - расширение диапазона ви дов контролируемых поверхностей посред ством измерения характеристик поляризации отраженного пучка излучения Формируют плоскость поляризации освещающего лазерного пучка под углом 0° Во 90°относительно плоскости падения, в...

  Изобретение относится к физической оптике, в частности к технике использования структуры вещества фазовохаотических объектов при наличии двулучепреломления, и может быть использовано в кристаллооптике, полупроводниковом приборостроении, неразрушающем контроле состояния поверхностной и объемной составляющих объекта и других отраслях науки и техники. Цель - повышение точности измере...

  Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для определения распределения крутизны микронеровностей , определяющих величину напряжения при контакте трущихся поверхностей , а также прочностные характеристики деталей, что актуально в приборостроении, бесконтактном контроле состояния поверхностей и др. отраслях науки и техники. Целью изобретения является повы...

  Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для измерения формы шероховатых диэлектрических , металлических и полупроводниковых предметов, что актуально в оптическом и полупроводниковом приборостроении, точной механике, машиностроении и др. отраслях науки и техники. Целью изобретения является повышение точности измерения, а также расширение области его исп...