ЕРМОЛЕНКО СЕРГЕЙ БОРИСОВИЧ

  Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повьшение . точности и рас , ширение пределов измерений функции распределения углов наклона микронеровностей , размеры которых сравнимы с длиной волны, за счет устранения влияния дифракционного уширения пучков излучения, отраженных от микроплощадок. Для этого формируют коллимированный пучок когерентного изл...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структуры шероховатых поверхностей диэлектриков, металлов, полупроводников и др., что актуально в приборостроении, неразрушающем оптическом контроле и других отраслях науки и техники. Целью изобретения является повышение точности измерения и расширение области использования за счет измерения ф...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения крутизны неровностей, определяющих величину напряжения при контакте трущихся поверхностей. Цель изобретения - повышение точности определения и расширения пределов измерения сильношероховатых поверхностей за счет регистрации совокупности зон корреляции образованной структурными элементами поверхно...

  Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для исследования градиента показателя преломления прозрачных объектов с шероховатой поверхностью в дефектоскопии, оптике рассеивающих сред, оптическом приборостроении и других областях науки и техники. Целью изобретения является повышение точности измерений и расширения класса исследуемых объектов на образцы с шер...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ социАлистических РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 11/30 COCYgPPCTBEI+hlA КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4660446/28 (22) 09.03,89 (46) 15.03.91. Бюл. N 10 (71) Черновицкий государственный университет (72) А. Г. Ушенко и С. Б. Ермоленко (53) 531.715.27(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР N 1456...

  Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для определения распределения крутизны микронеровностей , определяющих величину напряжения при контакте трущихся поверхностей , а также прочностные характеристики деталей, что актуально в приборостроении, бесконтактном контроле состояния поверхностей и др. отраслях науки и техники. Целью изобретения является повы...

  Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано для измерения формы шероховатых диэлектрических , металлических и полупроводниковых предметов, что актуально в оптическом и полупроводниковом приборостроении, точной механике, машиностроении и др. отраслях науки и техники. Целью изобретения является повышение точности измерения, а также расширение области его исп...