КОМИССАРИК АНДРЕЙ ПЕТРОВИЧ
Изобретатель КОМИССАРИК АНДРЕЙ ПЕТРОВИЧ является автором следующих патентов:
![Устройство дефектоскопического контроля планарных структур Устройство дефектоскопического контроля планарных структур](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5323e929e398532b3773980799f0b400.jpg)
Устройство дефектоскопического контроля планарных структур
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения углового рассовмещения между эталонной и контролируемой пленарными.структурами. Устройство дефектоскопического контроля планарных структур содержит ко СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) 4 Гт 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А BTOPCHOMV СВИ...
1460610![Устройство для контроля плоских однородных поверхностей Устройство для контроля плоских однородных поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6189dc8db101a06bc6b3b83c379fb3e0.jpg)
Устройство для контроля плоских однородных поверхностей
Изобретение относится к области контроля характеристик изображения объекта путем анализа его изображения . Целью изобретения является расширение области применения устройства . Устройство содержит блок подсвета 1, координатный стол 2, микроскоп 3 и передающую телевизионную камеру 4, три элемента задержки 6-8, первый, второй и третий регистры сдвига 9-11, генератор тактовых импуль...
1619311![Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/63bffecfbcf7d7c60b04b4241680b29e.jpg)
Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может использоваться в системах технического зрения для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта. Цель изобретения - расширение области применения путем обеспечения возможности определения величинь: отклонения от прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта....
1628071![Устройство дефектоскопического контроля планарных структур Устройство дефектоскопического контроля планарных структур](https://img.patentdb.ru/i/200x200/5b438bc20c1f3eb5493eb536877074bf.jpg)
Устройство дефектоскопического контроля планарных структур
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике. Целью изобретения является повышение достоверности и производительности контроля за счет автоматизации процесса угловой юстировки изображения контролируемой планарной структуры относительно эталонной. Увеличенные оптической системой 1 изображения поверхностей эталонной и контролируемой пленарных структур, зафиксированных в...
1684597