PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КОМИССАРИК АНДРЕЙ ПЕТРОВИЧ

Изобретатель КОМИССАРИК АНДРЕЙ ПЕТРОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения углового рассовмещения между эталонной и контролируемой пленарными.структурами. Устройство дефектоскопического контроля планарных структур содержит ко СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) 4 Гт 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А BTOPCHOMV СВИ...

1460610

Устройство для контроля плоских однородных поверхностей

Устройство для контроля плоских однородных поверхностей

  Изобретение относится к области контроля характеристик изображения объекта путем анализа его изображения . Целью изобретения является расширение области применения устройства . Устройство содержит блок подсвета 1, координатный стол 2, микроскоп 3 и передающую телевизионную камеру 4, три элемента задержки 6-8, первый, второй и третий регистры сдвига 9-11, генератор тактовых импуль...

1619311

Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта

Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта

  Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может использоваться в системах технического зрения для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта. Цель изобретения - расширение области применения путем обеспечения возможности определения величинь: отклонения от прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта....

1628071

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

Устройство дефектоскопического контроля планарных структур

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике. Целью изобретения является повышение достоверности и производительности контроля за счет автоматизации процесса угловой юстировки изображения контролируемой планарной структуры относительно эталонной. Увеличенные оптической системой 1 изображения поверхностей эталонной и контролируемой пленарных структур, зафиксированных в...

1684597