PatentDB.ru — поиск по патентным документам

БЕН-НАМ ЧЕН

Изобретатель БЕН-НАМ ЧЕН является автором следующих патентов:

Способ измерения атмосферной рефракции

Способ измерения атмосферной рефракции

  Изобретение относится к области атмосферной оптики и используется для определения атмосферной рефрак-, цин. Целью изобретения яйляется повышение точности и чувствительности измерений. Способ заключается в посылке через исследуемый слой атмосферы по измерительной трассе пучка излучения от когерентного или частично когерентного источника, приеме прошедшего исследуемую трассу пучка...

1464676