КОППЕ ВАЛЕРИЙ ТИМОФЕЕВИЧ

  Изобретение может быть использовано для изучения физико-химических процессов на поверхности и в объеме твёрдых тел, в частности, в микроэлектронике и полупроводниковой промьшшенностй. Целью изобретения является упрощение конструкции, экономии материалов и электроэнергии, что достигается измерением угловых зависимостей при неподвижных источнике первичных ионов и анализаторе вторич...

  Изобретение относится к электроаппаратостроению и может быть использовано при производстве электромагнитных коммутационных аппаратов (ЭМКА) и для их диагностического контроля. Цель изобретения - получение достоверной информации о влиянии продуктов газовыделения на работоспособность ЭМКА. Для этого измеряется сопротивление контактов и изоляции обмотки после каждого из двух повторен...

  Использование: радиоэлектроника, микроэлектроника и физхимия поверхности . Сущность изобретения: площадь отверстия для помещения исследуемого кристалла St, площадь выходной диафрагмы системы формирования пучка первичных ионов За и площадь входной диафрагмы системы сбора вторичных ионов Зз связаны соотношением . Это позволяет сохранить условия выбивания и сбора вторичных ионов, ис...