ПЛОХОВ СЕРГЕЙ АНАТОЛЬЕВИЧ
Изобретатель ПЛОХОВ СЕРГЕЙ АНАТОЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Спекл-интерферометр
Изобретение относится к устройствам для интерференционных измерений и предназначено для исследования перемещений поверхности диффузно отражающих объектов в различных точках. Целью изобретения является повышение чувствительности измерения перемещений в отдельной точке объекта за счет увеличения эффективной величины апертурного угла. Для этого спекл-интерферометр снабжено двумя зерк...
1471065
Способ получения интерферрограммы при контроле изменения состояния объекта
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений диффузно отражающих объектов методом спекл-интерферометрии. Целью изобретения является повышение чувствительности получаемой интерферираммы за счет сопряжения пучков +1 и -1 порядков дифракции. Для этого диффузный объект в недеформированном и деформированном состояниях записывают с...
1499110
Способ определения перемещения
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих объектов. Целью изобретения является повышение точности за счет увеличения контраста интерференционной картины. На поверхность объекта наносят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам...
1566201
Способ определения неоднородных перемещений
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании плоских неоднородных перемещений объектов. Целью изобретения является повышение точности и чувствительности измерений. На поверхность объекта наносят высокочастотный растр и после деформации объекта выполняют копию деформированного растра. Затем копию освещают двумя коллимированными пучками ко...
1606851
Интерферометр
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений точек поверхности методом спекл-интерферометрии. Целью изобретения является повышение информативности за счет обеспечения возможности получения интерференционной картины по всей исследуемой поверхности. Проходя через систему микрообъектива 1 и линзы 3, излучение коллимируется и осв...
1619014