МИГОЛИНЕЦ ИВАН МИХАЙЛОВИЧ

  Изобретение относится к оптоэлектронике и позволяет повысить точность определения градиента показателя преломления пленки по толщине. Дополнительной целью изобретения является расширение возможности выбора материала для подложки первого контрольного образца. Способ заключается в измерении коэффициентов отражения по двум контрольным образцам, подложки которых выполнены из материало...