КРУТЯКОВА В.П.

  Изобретение относится к квантовой электропике и предназначено для измерения порогов объемного оптического пробоя элементов лазерных сие1 Изобретение относится к квантовой электронике и предназначено для измерения порогов объемного оптического пробоя прозрачных материалов, используемых , в частности, для изготовления элементов лазерных систем. Целью изобретения является сокращение...

  Изобретение относится к квантовой электронике и предназначено для определения радиуса эффективного пятна облучения Рэ в обьеме прозрачного диэлектрика, облучаемого лазерным пучком, что необходимо для решения прикладных задач силовой оптики, в частности для расчета объемной оптической прочности материалов , используемых в качестве элементов оптических систем мощных лазеров. Цель и...