Ануфриев Л.П.
Изобретатель Ануфриев Л.П. является автором следующих патентов:
![Способ разбраковки биполярных транзисторов Способ разбраковки биполярных транзисторов](/img/empty.gif)
Способ разбраковки биполярных транзисторов
Способ разбраковки биполярных транзисторов относится к области электротехники, в частности для отбраковки биполярных транзисторов по критериям: надежность и стойкость к электростатическим разрядам, а также для повышения достоверности других методов отбраковки как в процессе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Разбраковка включ...
2204143![Способ отбраковки интегральных схем Способ отбраковки интегральных схем](/img/empty.gif)
Способ отбраковки интегральных схем
Использование: для отбраковки загерметизированных интегральных схем. Сущность изобретения: интегральные схемы подвергают воздействию внешнего фактора, в данном случае циклическому воздействию повышенной и пониженной температуры, получают изменение информативного параметра, по величине которого делают вывод о наличии коррозии алюминиевой металлизации на кристалле. При этом время выдержки и...
2217843![Микроэлектронный датчик влажности поверхностно- конденсационного типа Микроэлектронный датчик влажности поверхностно- конденсационного типа](/img/empty.gif)
Микроэлектронный датчик влажности поверхностно- конденсационного типа
Использование: в области производства интегральных схем (ИС) для контроля содержания паров воды в подкорпусном объеме как в процессе их производства, так и при испытаниях и на входном контроле. Сущность изобретения: микроэлектронный датчик влажности поверхностно-конденсационного типа для контроля содержания влаги в подкорпусном объеме ИС содержит на пластине кремния сдвоенный термодатчик...
2224246![Способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов Способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов](/img/empty.gif)
Способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов
Использование: при сравнительной оценке надежности партии приборов как на этапе производства, так и применения. Сущность изобретения: проводят испытание партий транзисторов на электростатический разряд. На выбранные приборы подают электростатические разряды потенциалом вдвое большим, чем допустимый по техническим условиям, повышая его ступенчато на 20-30 В до появления параметрических или...
2226698